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三星电子上个月在10纳米级第六代DRAM(1c DRAM)晶圆的性能测试中,实现了50-70%的良品率

发布时间:2025-06-27 点击数:0

据韩媒报道,三星电子上个月在10纳米级第六代DRAM(1c DRAM)晶圆的性能测试中,实现了50-70%的良品率,与去年同类产品不到30%的良品率相比,取得了实质性的进步。报道称,三星采取提前准备生产线的策略,以便在最终测试完成后立即投产,1c DRAM将作为HBM4核心芯片。

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